高精度薄件超声波测厚仪宇时PM-5

高精度薄件超声波测厚仪宇时PM-5

详细信息

品牌：宇时	加工定制：否	型号：PM-5
类型：薄膜	测量范围：下限0.2 mm	显示方式：彩屏显示
电源电压：两节AA电池 V	外形尺寸：153mm×76mm×37 mm

高精度薄件超声波测厚仪宇时PM-5
浙江宇时PM-5薄件超声波测厚仪利用多次回波提高精度，使分辨率达0.001mm，测量下限低至0.2mm，并且提供A、B扫描功能，通过回波显示可以帮助使用者更好的控制测量，使测厚范围更广，测量数值更精确，也可避免在测量中与材料相关的误差。PM-5薄件超声波测厚仪可广泛应用于金属材料厚度的测量，尤其适用于薄件测量和高精度测量。

高精度薄件超声波测厚仪宇时PM-5的A扫描功能介绍：
PM-5薄件超声波测厚仪A-扫描模式可用于同时查看厚度测量值和A-扫描波形。在界面的右侧是参数调节区，通过调节参数可蕞大限度地解决各种困难的测厚应用。在测厚过程中，经常会出现由于增益过小，得到的测厚值不准确的情况。如下图，测试块实际厚度约为5mm，但由于增益过小，一次回波没有冲破闸门，闸门自动锁定二次回波，得到测厚值为10.77mm，这很明显是错的，用户可以通过调高增益，拉高波高，使一次回波冲破闸门来实现正确测量。
高精度薄件超声波测厚仪宇时PM-5的B扫描功能介绍：
沿着工件表面移动探头，显示工件的剖面图，用于观察被测工件的底面轮廓。探头离开工件时自动捕获一幅 B扫描图像上的樶小值，并由红色三角指示出樶小值的位置。通过移动白色指针可查看B扫描图像上任一点的厚度值。
高精度薄件超声波测厚仪宇时PM-5的主要技术参数：

显示屏	2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏，对比度10000:1
工作原理	使用单晶延迟探头的超声波测量原理
测量模式及测量范围（材料为钢）：
I-E	脉冲-回波法，测量范围1.5mm-27mm
E-E	回波-回波法，测量范围0.2mm-13.5mm
ME-E	多次波校验法，测量范围0.2mm-9mm
AUTO	自动模式测量范围0.25mm-27mm
显示模式
A-SCAN	显示完整的射频回波或整流后的半波波形
B-SCAN	时基B扫描,显示工件剖面图
存储	400个文件，10万个厚度和1000组波形
大厚度读数	厚度值的常规显示视图
差值/缩减率	显示实际厚度与预设厚度的差值和减薄百分比
小/大值捕获	同时显示当前厚度值、小厚度值和大厚度值
测量分辨率	0.001或0.01或0.1mm(0.0001或0.001或0.01in)
单位	毫米或英寸
增益	实时可调
测量更新频率	每秒4HZ、8HZ、16HZ可选
材料声速范围	500-9999m/s，0.0179-0.3937in/us
工作语言	中文、英文、日文、德文、法文五种语言可选择
报警设置	测量值大于预设的上限或下限时，动态改变厚度读数颜色报警
电源	两节1.5V AA电池
操作时间	两节AA电池，使用时间大于35小时
仪器关机	可选5、10、20分钟无操作后自动关机，或只能手动关机
工作温度	-10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃
尺寸	153mm×76mm×37mm (H×W×D)
重量	280g(含电池）
标准配置	测厚仪主机、标配探头、仪器箱、两节碱性电池、耦合剂、操作手册、合格证、装箱单、数据通讯线1条、软件光盘1张
选配件	橡胶外套；校准用阶梯试块；耦合剂

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