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宇时超声波测厚仪UM-3使用说明书
2012-05-16 10:53:47 来源:1.仪器概况
UM-3精密超声波测厚仪采用单晶延迟探头,利用多次回波提高精度,使分辨率可达0.001mm,测量下限达0.3mm 。UM-3具有普通和精密两种工作模式。普通模式采用界面波-回波法,测量范围是1.5mm~18mm ;精密模式采用回波-回波法,测量范围是0.3mm~10mm。
UM-3精密超声波测厚仪的工作原理如下:
厚度= (声速×时间)/ n
注:n 为回波次数,回波次数越多测量精度越高
1.1 模式切换
按MENU键,当反黑显示普通或精密时,按键可进行普通和精密两种模式的切换。
1.2 基本配置及各部分名称
1.2.3仪器各部分名称(见下图)
液晶屏显示:
m/s ——声速单位 凸 ——耦合标志 mm ——厚度单位
HIGH —0.001mm分辨率 MID —0.01mm分辨率 LOW —0.1mm分辨率
BATT ——低电压标志 测量时左下角数字是回波次数
键盘功能说明:
ON ——开机键 VEL ——声速键
MENU ——菜单键 MEM ——存储键
CAL ——校准键 ——背光键
——回车键 △、▽——上、下调节键
1.2.1标准配置:
●主机——1台 ●单晶延迟探头——1个 ●探头线——1条
●耦合剂——1 瓶 ●仪器密封箱——1个 ●使用说明书——1本
●电池——2节
1.2.2选购件:
●通信软件及电缆 ●阶梯试块
2.超声波测厚仪技术参数
★ 显示方式:128×64大屏幕点阵液晶屏显示
★ 普通模式测量范围:1.5 mm~18 mm
★ 精密模式测量范围:0.3 mm~10 mm
★ 显示分辨率:毫米:0.001,0.01,0.1
英寸:0.0001,0.001,0.01
★ 测量刷新频率:常规测量时4Hz,*小值扫查时25Hz
★ 声速调节范围:1000~9999 m/s
★ 使用环境:0℃~40℃
★ 电源:二节5号碱性电池
★ 外形尺寸:149×73×32 mm
★ 重量:200g(含电池)
3.主要功能
★ 具有普通和精密两种工作模式
★ 厚度值存储:可存储500个厚度值,关机后数据不丢失,并且划分为五个文件,便于对数据的管理
★ 厚度报警:可设置厚度界限,对限界外的测量值自动报警
★ *小值捕获(也称扫查模式):捕获测量过程中的*小值
★ 两点校准:测量曲面壁厚或特殊应用时,可提高测量的精度
★ 支持毫米和英寸两种厚度单位
★ 可存储5种不同材料的声速
★ 校准值自动存储,关机后数据不丢失
★ 删除功能:对文件中的可疑数据进行删除,也可删除所有已存储数据以便存储新的数值
★ 具有背光显示,为夜间工作带来方便
★ 低电压提示
★ 自动关机:如果5分钟内没进行任何操作,仪器自动关机
★ 耦合状态提示:通过观察耦合标志的稳定性可知耦合是否正常
★ 支持中文、英文两种语言界面
4.超声波测厚仪测量步骤
4.1 仪器准备
将探头插头插入主机探头插座中,按一下ON键,听到两次蜂鸣声屏幕出现显示,其中显示的声速为上次关机前使用的声速,显示内容见下图:
4.2 超声波测厚仪声速的设定
当已知材料声速,可以利用仪器提供的声速手动调节功能,并依据附表中的参考声速值,调整仪器的内置声速值。声速存储器可存储五个声速值。具体操作步骤如下:
如果当前显示屏显示的是非声速值,那么按VEL键进入声速状态,屏幕将显示当前声速存储单元的内容。之后,每按一次VEL键,声速数值就变化一次,可循环显示五个声速值,见下图:
如果当前声速存储器内没有所需声速值,可用△或▽键调整到所需值即可,同时将此值存入声速存储器内以便下次使用。见下图:
在调整声速数值时,屏幕上的▲可在数值的个位、十位或百位的下方,当▲在个位、十位、百位的下方时,每按一次△或▽键,数值将依次加或减1、10、100,可以通过回车键实现▲在个位、十位或百位下方的切换。
4.3 声速的测量
在被测材料的声速未知时,在测量厚度前必须进行声速校准。
注:准备与被测物体成分相同的测试块,其表面必须适于测量,用游标卡尺测量测试块厚度。
具体步骤如下:
①在现有的仪器状态下,测量已准备好的同质并已知厚度的试块。屏幕显示测量的厚度值。
②按VEL声速键,利用△或▽键调整声速值,直到测量值与已知厚度相等,这时的声速值就是该材料的声速。
③该声速自动被存入当前的声速存储单元。
注意:利用仪器自带的4mm钢试块校准时,声速要调整到5900m/s。在测量非钢材料前,把声速调整到该材料的声速值。
4.4 超声波测厚仪仪器校准
4.4.1 快捷校准
选择与被测材料声速及曲率相同的标准试块,如果UM-3的厚度测量值与该试块的厚度不符,利用△或▽键调整仪器显示的厚度值,使其与试块的实际厚度相等,然后按下CAL键结束校准。
注:UM-3测厚仪不须校准直接测厚,注意声速的调节。
4.4.2两点校准
测量曲面壁厚或特殊应用时,为了提高测量的精度,可进行两点校准,详见第7章第5节。
4.4.3快捷校准与两点校准的区别
快捷校准与两点校准的区别有以下几点:
①快捷校准用随机试块,声速为5900m/s。两点校准可用任意材料和厚度的试块。
②快捷校准只需一块试块。两点校准需要两块厚度不同的试块。
4.5 测量厚度
仪器校准后,设置好声速值,然后将耦合剂涂于被测处,将探头与被测材料耦合即可测量,屏幕将显示被测材料的厚度值。见下图:
说明:当探头与被测材料耦合时,屏幕上将显示“凸”耦合标志;“凸”标志右侧的数字是回波次数,回波次数值越大测量精度越高。当耦合标志闪烁或不出现则说明没耦合好。拿开探头后,厚度值保持不变,耦合标志消失。见下图:
5.厚度值的存储与查阅
5.1 存储厚度值
厚度值的存储分5个文件,每个文件可存储100个测量值。
首先,选择存储文件号。按MENU键,使屏幕反显查阅,见下图:
按回车键,5个文件号可循环显示,当选择所需的文件号后,再按MENU键使屏幕显示存储字样,即存储文件号选择完毕。见下图:
其次,测量厚度值。
*后,存储厚度值。测量厚度值后,屏幕将显示该厚度值。此时,按下MEM键即可存储该厚度值。存储完成后屏幕左下方显示一次“Memory”,即证明已存储该厚度值。
5.2 厚度值的查阅
按MENU键,使屏幕反显查阅,然后,按回车键,5个文件号可循环显示,选择需查阅的文件号,见下图:
*后,按MEM键进入该文件。见下图:
说明: No. : 表示当前显示的存储数据的序号;Total : 表示当前文件中存储数据的总数量。
此时,可通过△或▽键进行翻阅查看,查阅完毕后,按MENU键或进行测量即可返回主界面。
6.删除操作
6.1 删除单个厚度值
在查阅存储数据状态,按下回车键即可删除当前显示的存储值。
具体步骤如下:
①进入查阅存储数据状态,方法前面已介绍。见下图:
②按回车键删除当前值,显示下一个存储值。见下图:
6.2 删除当前文件
要删除当前文件的所有内容,具体操作如下:
①按MENU键将光标移至“功能”处,见下图:
再按回车键进入功能菜单并通过▽键选定功能设置。见下图:
②按回车键进入该界面,再通过△或▽键选定“删除当前文件”。见下图:
③选定后,按回车键屏幕出现如下显示:
此时,按回车键将删除当前文件,按MENU键返回上个界面。
④删除完成后,按VEL键或按MENU键均可返回主界面。
6.3 删除所有文件
要删除所有文件中的数据,步骤同上。只需选定“删除所有文件”即可。
6.4 删除校准数据
要删除校准数据,步骤同上。只需选定“删除校准数据”即可。
7.系统和功能设置
7.1 系统设置
按MENU键将光标移至“功能”处,见下图:
然后按回车键进入功能菜单,此时屏幕显示见下图:
此时,光标在“系统设置”项上,(如果不是在此项上可用△或▽键上下移动将光标移在“系统设置”项上),按回车键进入系统设置菜单,用△或▽键上下移动选择需修改项,然后按回车键可进行修改。
系统设置中共有5个选项,依次为:单位(公制、英制);分辨率(高、中、低);*小值捕获;两点校准;语言,用户可以根据实际需要进行设置。设置完成后,按MENU键或进行测量可返回主页面。
7.2 功能设置
按MENU键将光标移至“功能”处, 然后,按回车键进入功能菜单,再通过△或▽键选择功能设置。见下图:
再按回车键进入功能设置菜单,通过△或▽键上下移动光标选择相应的功能项。
功能设置中共有4个选项,依次为:删除当前文件;删除所有文件;删除校准数据;调节亮度;4个选项,用户可以根据实际需要进行设置。设置完后,按MENU键或进行测量可返回主页面。
7.3 测量单位及分辨率的设定
UM-3提供两种测量单位:公制和英制;两种显示分辨率:0.1mm和0.01mm。用户可以根据实际的需要进行设定。
具体的设定步骤如下:
① 进入系统设置菜单,通过△或▽键将光标移至“单位”处,按回车键可循环调节METRIC(公制)、IMPERIAL(英制)选项,见下图:
②进入系统设置菜单,通过△或▽键将光标移至“分辨率”处,按回车键可循环调节HIGH(0.01mm)、LOW(0.1mm)选项,见下图:
7.4 *小值捕获
所谓*小值捕获是指在测量过程中捕捉测量值中的*小值。设置*小值捕获的步骤如下:
① 进入系统设置菜单,将*小值捕获设置为ON。见下图:
:
②设置完毕,按MENU返回主界面(OFF是关闭*小值捕获;ON是开启*小值捕获)。见下图:
说明:启用*小值捕获后,探头与工件耦合时,屏幕显示的是当前测量值;当探头抬起时,屏幕显示的是测量中的*小值,并且*小值标志MIN闪烁6次。如果在MIN闪烁期间继续测量,当前测量值将继续参加*小值捕捉,如果MIN停止闪烁后再进行测量,将重新捕捉*小值。
7.5 超声波测厚仪两点校准
选择两个与被测材料、声速及曲率相同的标准试块,其中一个试块的厚度接近测量范围的上限,另一个试块的厚度接近测量范围的下限,进行两点校准可以提高测量精度,进行两点校准之前应先将两点校准功能打开,关闭*小值捕获。具体步骤如下:
①进入系统设置菜单,将两点校准设置为ON。见下图:
②设置完毕后,按MENU键返回主界面。如果两点校准被设为ON,那么在测量的状态下可随时进行两点校准。
③进行校准操作。具体步骤如下:
首先,测量薄块的厚度,在厚度显示状态下按CAL键,屏幕提示校准薄块,见下图:
通过△或▽键将测量值调整到标准值,按CAL键,屏幕提示校准厚块,见下图:
测量厚的标准试块,同样通过△或▽键将测量值调整到标准值,再按CAL键,完成校准操作,即可进行测量。
7.6 亮度调节
具体的操作步骤如下:
①进入功能设置菜单,通过△或▽键将光标移至“调节亮度”处,见下图:
②按回车键进入调节亮度界面,见下图:
此时,可以通过△或▽键调节亮度,调节完毕后,按回车键返回上个界面,再按MENU键返回主界面。
7.7 上下限设定
本仪器可分别设定上限值及下限值,以便快速测量。
具体设置步骤如下:
①在功能界面下按上下键使光标移至“出界报警”处,见下图:
②按回车键进入界限界面,屏幕显示原设置的下限或上限,见下图:
此时,按回车键上限和下限可循环显示;通过△或▽键设置新的下限或上限值。
③设置完毕后,按VEL键或按MENU键或进行测量都可退出限界设置界面。
当测量范围超出所设定的上下限时,仪器自动报警,蜂鸣器鸣响。
7.8 背光功能
仪器提供背光功能,以便在光线暗处阅读测量值。但请注意节电。
按 键背光亮,再按一下,背光灭。或者,关机后,背光功能自动关闭。
7.9 低电压提示功能
如果屏幕上显示BATT标志,说明电池电压低,应及时地更换新电池再继续使用。见下图:
7.10 关机方式
UM-3设有自动关机和手动关机两种方式,约五分钟内不进行任何操作,那么仪器将自动关机;按MENU键将光标移至关机处,再按回车键即可手动关机。
8.测量应用技术
8.1工件表面要求
8.1.1清洁表面
测量前应清除被测物体表面所有的灰尘、污垢及锈蚀物等覆盖物。
8.1.2提高粗糙度要求
过分粗糙的表面会引起测量误差,甚至仪器无读数。测量前应尽量使被测材料表面光滑,可使用磨、抛、锉等方法使其光滑。还可使用高粘度耦合剂。
8.2.1单点测量法
在被测体上任一点,利用探头进行测量,显示值即为厚度值。
8.2.2两点测量法
在被测体的同一点用探头进行二次测量,在二次测量中,探头的分割面成90度,较小值为厚度值。
8.2.3多点测量法
在直径约为30mm的圆内进行多次测量,取其*小值为厚度值
8.2.4连续测量法
用单点测量法,沿指定线路连续测量,其间隔不小于5mm,取其中*小值为厚度值。
9.维护及注意事项
9.1 电源检查
电源电压低时,仪器显示低电压提示符号,此时应及时按要求更换电池,以免影响测量精度。背光不能长时间打开,以免过快消耗电池电量。
按下述方式更换电池即可:
①关机
②打开电池仓盖
③取出电池,放入新电池,注意极性
仪器长时间不使用时应将电池取出,以免电池漏液,腐蚀电池盒与极片。
9.2 注意事项
9.2.1一般注意事项
①避免仪器及探头受到强烈震动
②避免将仪器置于过于潮湿的环境中
③拔插探头时,应捏住活动外套沿轴线用力,不可旋转探头,以免损坏探头电缆芯线。
④由于使用随机试块对仪器进行检测时,需涂耦合剂,所以请注意防锈。使用后将随机试块擦干净。气温较高时不要沾上汗液。长期不使用应在随机试块表面涂上少许油脂防锈,当再次使用时,将油脂擦净后即可进行正常工作。
⑤酒精、稀释液等对机壳尤其是视窗有腐蚀作用,故清洗时,用少量清水轻拭即可。
9.2.2测量时的注意事项
①测量时,只有耦合标志出现并稳定时,才是良好测量。
②若探头磨损,测量会出现示值不稳,应更换探头。
9.3 超声波测厚仪维修
如出现以下问题请与我厂维修部联系:
①仪器器件损坏,不能测量。
②显示屏显示不正常。
③正常使用时,误差过大。
④键盘操作失灵或混乱。
由于UM-3系列超声波测厚仪为高科技产品,所以维修工作应由受过*培训的维修人员完成,请用户不要自行拆卸修理。
附表1:各种材料的声速
介质材料名称
声速(m/s) 铝 6320 铬 6200 铜 4700 金 3240 铁 5930 铅 2400 镁 5750 银 3600 钢 5900 钛 5990 锌 4170 钨 5174 锡 3320 黄铜 4280-4700 铸铁 4400-5820 玻璃 5260-6120 尼龙 2680 不锈钢 5740 水(20℃) 1480 甘油 1920 水玻璃 2350
注:上表声速仅供参考,实际声速校准参照4.3 声速的测量
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