CLJ-E型华宇半导体激光尘埃粒子计数器

CLJ-E型华宇半导体激光尘埃粒子计数器

CLJ-E型激光尘埃粒子计数器是用来检测净化环境中单位体积内所含尘埃颗粒数的计数仪器。本仪器空气采样量为 2.83 L/min （即0.1立方英尺/min），满足国家计量总局颁布的 JJF1190-2008检定规程的要求，能直接检测1000000级、300000级、100000级、10000级、1000级、100级的洁净环境。
CLJ-E型华宇半导体激光尘埃粒子计数器功能介绍：

CLJ-E型激光尘埃粒子计数器一次采样可同时测得六种粒径档的尘埃颗粒数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及变化情况，也可打印其检测结果，对研究、检测和评价各种洁净环境十分方便。因此，本仪器可广泛应用于微电子、医疗制药、生化制品、血液制品、食品卫生、化妆用品、精密机械、精细化工和航天航空等部门。该仪器还可以选配温度与湿度的测量功能，能在测尘埃的间隙，测量环境温湿度并能打印结果。

CLJ-E型华宇半导体激光尘埃粒子计数器主要特点：

（1）粒径分挡 0.3μm；0.5μm；1μm；3μm；5μm；10μm六档；

（2）采样时间：1～10分钟；

（3）采样点数：2～7点设定；

（4）每点采样次数：2～9次设定；

（5）六档粒径尘埃浓度同时检测，依次数字显示或自选粒径显示；

（6）显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m³所含颗粒数；

（7）显示或打印当前温度和湿度的数值。
CLJ-E型华宇半导体激光尘埃粒子计数器技术参数：
1.光源:全半导体激光光源，进口二极管激光器
2.采样量:2.83L/min(0.1cfm/min)
3.检测范围:100级～30万级    
4.允许被测试空气的含尘浓度≯10 万颗/2.83L
5.粒径通道:0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六档
6.显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m³所含颗粒数。
7.采样周期:1～10 (min)
8.自净时间:≤15 (min)
9.校准：可追溯美国国家标准技术协会（NIST），我公司已通过国家计量建标考核，可追溯至上海计量测量技术研究院可自行进行校准或第三方国家计量机构进行校准
10.工作环境:温度:10～35℃   相对温度:     20～75%RH
11.樶大功耗:25W
12.测量温度和湿度的范围与精度：（选购）
（1）温度：0～50℃±1℃
（2）湿度：0～100%RH±5%
13.采样点数：2～7点设定
14.每点采样次数：2～9次设定
15.UCL报表：符合FS-209E、中国GMP的标准
16.工作时间：8 小时
17.电源： AC220V±10%    50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸:260×130×340
20.六档粒径尘埃浓度同时检测，依次数字显示或自选粒径显示。
21.备注:内置打印机、自动判断净化等级、等动力采样头、采样架

主营产品：爱华声级计、噪声统计分析仪、声学振动测试分析仪、铁损测量仪、高斯计、磁通计，激光对中仪，金相磨抛机等全系列金相试验设备，无损检测设备（硬度计、涂层测厚仪、超声波测厚仪、粗糙度仪），漆包线检测设备、激光测径仪、盐雾试验箱、高低温试验箱、工业内窥镜、尘埃粒子计数器等。